描述：一、實驗內容：1、測量給定樣品介質的磁致旋光角和費爾德常數(shù)，驗證光振動面的偏轉與樣品介質的長度及磁感應強度成正比的規(guī)律；2、測定磁致旋光與自然旋光的區(qū)別，即磁致旋光的方向與磁場的方向有關，而與光的傳播方向無關；3、正常狀態(tài)下實現(xiàn)光信號的調制輸出；4、電光調制實驗；5、聲光調制實驗。
一、實驗內容：
1、測量給定樣品介質的磁致旋光角和費爾德常數(shù)，驗證光振動面的偏轉與樣品介質的長度及磁感應強度成正比的規(guī)律；
2、測定磁致旋光與自然旋光的區(qū)別，即磁致旋光的方向與磁場的方向有關，而與光的傳播方向無關；
3、正常狀態(tài)下實現(xiàn)光信號的調制輸出；
4、電光調制實驗；
5、聲光調制實驗。
二、主要技術參數(shù)：
1、平臺尺寸：1000×800×100mm，M6孔，孔距:25㎜
3、光 源：半導體激光器，波長650 nm，功率5mW；
※4、反射鏡組：1/2反射，φ43mm；
※5、偏振器：通光口徑：Ф30㎜ 外框直徑108mm，360°刻度旋轉，格值2°，精密微調旋轉；副刻度值2′，精度2′ ；
※6、磁場螺線管：長 200 mm， 匝數(shù) 4100 匝；線圈帶有透視式防塵罩；
